高速3D共焦线传感器 CHRocodile CLS 2.0
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用于智能化工厂高速检测的共焦线传感器


借助 CHRocodile CLS 2.0,您能够以很高的速度测量高斜率和复杂的表面并且避免阴影。高速 3D 共焦线传感器几乎可以对所有材料,甚至是难以测量的材料

进行高度精 确的测量,并且分辨率很高。



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其通用性确保能够合格完成各种测量。更重要的是,CHRocodile CLS 2.0 还有助于降低运营成本,节省时间,并确保工业 4.0 应用中的 100% 控制。


除此之外还有*重要的一项优势,那就是高速 3D 共焦线传感器 CHRocodile CLS 2.0 比其他替代设备更小、更轻。
 

在半导体行业的应用: 引线键合检测、凸点测量、包装晶圆边缘检查、切割槽检查、缺陷、裸片裂缝、光掩膜光刻。


在消费电子领域的进一步应用: 外壳形貌检查,轻微、中等和高度弯曲表面的检查、倒角和转角检查、直径/孔/梯形表面检查、特殊高度物体的外观检查。



优势

——高速度、高精度
凭借 2,160 万个测量点和每秒高达 36,000 行的扫描速度,CHRocodile CLS 2.0 非常适合对周期时间要求极高的在线质量控制应用。同时,这种传感器提供的数据具有非常高的横向和轴向分辨率,可实现精准测量。


——高度灵活
这种共焦线传感器的通用性可满足各种测量需求,例如,形貌结构和厚度测量、成分、分层、透明材料下的表面,以及复杂的几何形状。即使是难以测量的材料,例如漫反射、粗糙、彩色、抛光或反射表面,CHRocodile CLS 2.0 也能高速地进行准确测量。

无阴影

CHRocodile CLS 2.0 的线性结构与入射光和反射光重叠。因此,在测量特定的几何形状时,不会出现任何问题,而三角反射测量则会出现阴影问题。


——易于更换的光学探头
该传感器配置了三个易于更换的光学探头,仅需轻松转换即可使用合适的探头。您可以选择*长达12 mm 线程的探头,用于大型部件的快速检测,或者选择优 质数值孔径的短线,用于测量高度倾斜的表面,例如测量智能手机、电池或手表显示玻璃的倒角。

——点密度高
CHRocodile CLS 2.0 以每行 1,200 个点的密度来扫描物体。结合与像素间距相当的横向高分辨率和良好的轴向分辨率,可以获得高密度的必要信息和优 质的测量结果。


技术数据
测量速度:*高每秒 36,000 行
测量范围:680 - 10600 µm*
横向分辨率:1 - 8.5 µm*
与外部设备同步:触发输入,同步输出,5 个编码器输入,动态链接库 (DLL) 示例代码
* 具体取决于使用的光学探头
全国分站:福州 宜春 温州